★信頼性研究会（Ｒ）
専門委員長　益田昭彦　　副委員長　福田収一
幹事　陶山貢市・若井一顕　　幹事補佐　井原惇行・弓削哲史

日時　１１月１４日（金）　13:30〜16:00
会場　（社）中央電気倶楽部
　　　　（大阪駅より徒歩12分，JR北新地駅より徒歩6分）
　　　　大阪市北区堂島浜2-1-25
　　　　TEL: 06-6345-6351
　　　　http://www.chuodenki-club.or.jp/map/annai.html 参照

議題　−電子部品の信頼性，信頼性一般−

1. チップタンタル電解コンデンサの信頼性比較
○栗岡秀憲，安井徹，伊藤貞則（オムロン）

2. SRAM EMS耐性についての一考察
○河南靖，渡部尚数，田中雅二，和田哲明（松下電器産業）

3. 高耐圧nMOSFETのホットキャリア劣化
○登川一郎，西村隆，和田哲明（松下電器産業）

4. 重複事象を含むFTの頂上事象確率算出法について
○田上和寛，弓削哲史，柳　繁（防衛大）

5. 自己診断機能を有する安全関連系の作動要求時機能失敗確率
○武田勇，下平庸晴，陶山貢市，佐藤吉信（東京商船大学）


◆日本信頼性学会関西支部，IEEE Reliability Society Japan Chapter 共催



☆信頼性研究会今後の予定　
12月19日（金）　信頼性国際規格，保全性，信頼性一般　東京
1月　休会
【発表申込・問合せ先】
陶山貢市（東京商船大学）
　TEL & FAX: 03-5245-7478
　E-mail: suyama@ipc.tosho-u.ac.jp
若井一顕（NHK技術局）
　TEL: 03-5455-5388
　FAX: 03-3481-1546
　E-mail: wakai.k-dm@nhk.or.jp

☆信頼性研究会のホームページ
　http://www.ieice.org/~r/