★信頼性研究会（Ｒ）
専門委員長　益田昭彦　　副委員長　福田収一
幹事　陶山貢市・若井一顕　　幹事補佐　井原惇行・弓削哲史


★電子デバイス研究会（ED）
専門委員長　榎木孝知　　副委員長　和保孝夫
幹事　中島　成・田中　毅　　幹事補佐　江川孝志


日時　８月２８日（木）　10:00-16:25
会場　北海学園大学 札幌豊平キャンパス 教育会館1F AV4教室
〒062-8605 札幌市豊平区旭町4丁目1-40
TEL: 011-841-1161　FAX: 011-824-3141
地下鉄東豊線学園前駅直結（地下鉄さっぽろ駅より5分程度）
http://www.hokkai-s-u.ac.jp/gaiyou/campus.html


議題　−電子デバイスの信頼性と半導体界面・表面制御，信頼性一般−


<午前>
[セッション1] 10:00-11:40
1. ドミネーションを用いたFTの頂上確率算出について
○田上和寛，弓削哲史，柳　繁（防衛大）


2. 自己診断のない安全関連系の状態遷移モデル
○下平庸晴, 陶山貢市, 佐藤吉信 (東京商船大学)


3. 安全関連系の作動要求時機能失敗確率の計算法
武田勇，○下平庸晴, 陶山貢市, 佐藤吉信 (東京商船大学)


4. 修理と取り替えを考慮したマルコフ的劣化モデルに対する最適点検政策
田村信幸（中央大学）


<午後>
[セッション2] 12:30-13:45
5. 市場型サービスのシステム信頼性構造とモデル化について
益田昭彦（帝京科学大学）


6. 離散時間動作環境における周期的ソフトウェア若化スケジュールの推定
岩本一樹，○土肥正（広島大学大学院），海生直人（広島修道大学）


7. 動的捕獲再捕獲法によるソフトウェア信頼度の推定
○岡村寛之，村上崇康，土肥正（広島大学）


[セッション3] 13:55-14:35
8. 【特別講演】光デバイスの信頼性と劣化機構 −結晶・界面制御とデバイス信頼性
−
上田修（富士通研究所）


[セッション4] 14:45-16:25
9. InP HEMTのドレイン抵抗変化のバイアス依存性と回路の信頼性
○深井佳乃，杉谷末広，榎木孝知，北林博人，村田浩一，牧村隆司，山根康朗，村口
正弘（NTTフォト二クス研究所）


10. InPパッシベ―ション構造InGaAs/InP HBTの信頼性
○山日竜二，小谷謙司，川崎健，柳沢昌輝，八重樫誠司，矢野浩（住友電気工業）


11. AlGaAs/InGaAs pHEMTの大信号動作時の劣化機構
○日坂隆行，野上洋一，佐々木肇，蓮池篤，吉田直人，林一夫（三菱電機）


12. n-InP基板に対するAl-Mo合金電極のオーミックコンタクト機構
○武山真弓，野矢厚（北見工業大学），橋詰保，長谷川英機（北海道大学）



◆日本信頼性学会，IEEE Reliability Society Japan Chapter 共催



☆研究会終了後に懇親会が開催されます．



☆信頼性研究会今後の予定　
9月　休会
10月17日（金）　信頼性一般　九州大学
11月14日（金）　電子部品の信頼性，信頼性一般　中央電気倶楽部（大阪）
【発表申込・問合せ先】
陶山貢市（東京商船大学）
　TEL & FAX: 03-5245-7478
　E-mail: suyama@ipc.tosho-u.ac.jp
若井一顕（NHK技術局）
　TEL: 03-5455-5388
　FAX: 03-3481-1546
　E-mail: wakai.k-dm@nhk.or.jp


☆信頼性研究会のホームページ
　http://www.ieice.org/~r/


☆電子デバイス研究会今後の予定
9月2日（火），3日（水）九工大「センサデバイス・MEMS・一般」OME共催　[〆切済]
10月2日（木），3日（金）名工大「窒化物及び混晶半導体デバイス」LQE, CPM共催　
[7月中旬]
11月17日（月），18日（火）熊本大「ミリ波デバイス・回路・システム応用一般」
MW, 電気学会ミリ波共催 [8月中旬]
【発表申込・問合せ先】
中島　成（住友電工）TEL: 045-853-7266, FAX: 045-853-1289
E-mail: snakajm@sei.co.jp
田中　毅（松下電器）TEL: 075-956-9083, FAX: 075-956-9110
E-mail: tanaka@erl.mec.mei.co.jp