★信頼性研究会（Ｒ）
専門委員長　佐藤吉信　副委員長　生岩量久
幹事　菅原裕彦・柳 繁

日時　１１月１７日（金）　13:00〜15:30
会場　（社）中央電気倶楽部
　　　　（大阪駅より徒歩約１５分）
　　　　大阪市北区堂島浜２−１−２５
　　　　Tel: 06-345-6351
議題
１．＋BTストレスによるp+ポリシリコンゲートpMOSFETの特性変動検討
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　中島唯之 （松下電子）
２．p＋ポリシリコンゲートpMOSFETのHC劣化検討
		　　　　　　　　　　　　　　　　　藤本昌宏 （松下電子）
３．歩留まりに影響する致命不良を抽出する故障解析システム
　　　　　　　	      ○太田文人・向川泰和・福本晃二・益子洋治 （三菱）
４．建材一体型太陽電池モジュール開発における信頼性確保
　　　　　　　　　　　　      ○駒峯達也・杉田循・庄野弘晃 （シャープ）
５．自己故障診断のあるコンポーネントのアベイラビリティ推定モデル
　　　　　　　　　　　　　　　  ○張鉄嶺・龍偉・佐藤吉信 （東京商船大）

◆日本信頼性学会関西支部共催