★機構デバイス研究会（ＥＭＤ）
専門委員長  井上浩  副委員長  渡辺克忠
幹事  浅井誠二・石田広幸  幹事補佐  小林達郎

★信頼性研究会（Ｒ）
専門委員長　生岩量久　　副委員長　菅原裕彦
幹事　柳 繁・陶山貢市　　幹事補佐　井原惇行・弓削哲史

日時　2月15日（金）　13:00〜17:00
会場　静岡大学工学部　佐鳴会館ホール（浜松市城北３−５−１）
　　　ＪＲ浜松駅下車し、北口地下道を渡り地上のバスターミ
　　ナルへ。　バス：乗場15番，16番のバスで、静岡大学で下車
　　（約２０分）

議題  −機構デバイスの信頼性・信頼性一般−

１．AgCdO12wt%電気接点対の突起成長と電気的特性
　　　　　　　○中山崇嗣・渡邊隆志・関川純哉・窪野隆能（静岡大）

２．閉成責務電気接点における接触面損傷とバウンスの特性
　　　　　　　　○渡邊隆志・中山崇嗣・関川純哉・窪野隆能（静岡大）

３．Ａｕ，Ａｇ，Ｃｕ，ＮｉおよびＰｔ電気接点対における等速開離時アー
　クのＶ−Ｉ特性
　　　　　　　　　　　　　　○関川純哉・木波宏之・窪野隆能（静岡大）

４．銅とニッケルの組み合わせ電気接点対における開離時アークの
　分光計測
　　　　　　　　　　　　　　　○木浪宏之・関川純哉・窪野隆能（静岡大）

５．接点消耗における接点径が寿命に与える影響
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　○戸田敬一（オムロン）

６．X線リソグラフィーによる微小プローブの製作と耐久性評価に
　ついて
　　○絹田精鎮、市野沢義行（オプトニクス精密）、菅原裕彦（ＮＴＴ）

７．レーザフォーミングを適用したリレ−接点バネの変位制御
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　○北田耕作・朝日信行（松下電工）

◆継電器・コンタクトテクノロジ研究会, IEEE CPMT共催
☆ EMD研究会今後の予定　　〔　〕内発表申込締切日
3月1日（金）　都立高専「卒論・修論発表会」
　〔締切済〕
4月19日（金）沖　「一般」〔2月15日(金)〕
◎最新の情報は http://www.ieice.org/es/emd/jpn/ を
    ご参照下さい。
【発表申込・問合先】
浅井誠二（日立製作所）
　TEL [045] 881-1221, FAX [045] 865-7057
　Email: se-asai@itg.hitachi.co.jp
石田広幸（東北文化学園大）
　TEL /FAX [022] 233-5437
　Email: ishida@ait.tbgu.ac.jp
小林達郎（沖センサデバイス）
　TEL [0426] 62-6666, FAX [0426] 62-0229
　Email: kobayashi334@oki.com

☆Ｒ研究会今後の予定　
　3月22日（金）　電子部品の信頼性、信頼性一般　東京
　4月26日（金）　光部品の実装，信頼性一般　東京
【発表申込・問合先】
　柳　繁　（防衛大）　
　　TEL　〔0468〕 41-3810，　FAX　〔0468〕 44-5903
　　E-mail: shigeru@nda.ac.jp
　陶山　貢市（東京商船大）
　　TEL　[03] 5245-7478，　FAX　[03] 5245-7478
　　E-mail: suyama@ipc.tosho-u.ac.jp
◎Ｒ研究会のホームページ
　http://www.ieice.org/~r/