★信頼性研究会（Ｒ）
専門委員長 生岩量久　副委員長 菅原裕彦
幹事 柳 繁・陶山貢市


日時　6月22日（金）　13:00〜15:20
会場　機会振興会館
　　
議題　― システム，ソフトウエアの信頼性／信頼性一般 ―
１．従属故障を考慮した格子型システムの寿命分布
　　　　　　　　　　　○弓削哲史，柳　繁（防衛大）
２．大気環境を考慮した電気・電子機器の劣化診断技術
　　　　　　　　○藤堂洋子,兼平勝己,村上和也,
        　　　　　　 木村和成,深倉寿一（東芝）
３．アルミ電解コンデンサへの臭素の影響について
　　　　　　　　　　　　　牧野芳樹（ルビコン）
４．［特別講演］宇宙用電子部品開発の変遷−３０年の歴史
　　　　　　　　　　　　　松田純夫（宇宙開発事業団）



◆IEEE-R 東京チャプタ，日本信頼性学会　共催


☆研究会今後の予定
　7月、8月　休会
　9月14日（金）　試験法、法規関係、信頼性理論／信頼性一般　東京
　10月19日（金）　信頼性一般　九州大学
【発表申込・問合先】
　柳　繁　（防衛大）　
　　TEL　〔0468〕 41-3810，　FAX〔0468〕 44-5903
　　E-mail: shigeru@nda.ac.jp
　陶山　貢市（東京商船大）
　　TEL　[03] 5245-7478，　FAX　[03] 5245-7478
　　E-mail: suyama@ipc.tosho-u.ac.jp


◎Ｒ研究会のホームページ
　http://www.ieice.org/~r/