機構デバイス研究会（ＥＭＤ）
専門委員長  井上浩  副委員長  箕輪功
幹事  浅井誠二・石田広幸  幹事補佐  小林達郎

信頼性研究会（Ｒ）
専門委員長　佐藤吉信　副委員長　生岩量久
幹事　菅原裕彦・柳　繁

日時　2月16日（金）　　10：00〜16：35
会場　住友電装株式会社（四日市市西末広町1-14，JR関西線四日市駅下車，徒歩約１
０分。または近鉄名古屋線四日市駅下車，中央通りジャスコ前バス停より「JR四日市
駅行き」バスに乗車，JR四日市駅下車，徒歩約１０分。TEL 0593-54-6201）

  議題　−機構デバイスの信頼性−

  １．銅電気接点対における開離時アークの分光特性
　　　　　○木浪宏之、平松直樹、関川純哉、窪野隆能　（静岡大）

  ２．電気接点対での開離時アーク特性（電圧・電流・アーク長の関係）
　　　　　○関川純哉、木浪宏之、平松直樹、窪野隆能　（静岡大）

  ３．制御継電器の電気接点損傷に関する数値評価研究（その２１）
　　　　−電気接点材料の突起形状と電気的特性に及ぼす影響−
　　　　　○渡邊隆志、別宮達二、窪野隆能　（静岡大）

  ４．Arcing and its subsequent degradations on the contact material of
　　　automotive power relays and switches : welding
　　　　　○L. Morin　（東北大）、N. Ben Jemaa（University of Rennes 1）、
　　　　　　　曽根秀昭（東北大）、D. Jeannot（Metalor Electrotechnic）

午後

  ５．［招待講演］　　　　高信頼性指紋センサLSI
　　　　　　町田克之 （NTT）

  ６．リチウムイオン電池用ニッケル系複合酸化物正極の合成と電気化学特性
　　　　　　○神野丸男、米津育郎 （三洋電機）

  ７．ガスタービンエンジンＦＡＤＥＣの最適自己診断方策
　　　　　　　伊藤弘道 （三菱重工）、水谷聡志、○中川覃夫 （愛工大）

  ８．新しく開発したAg-Pd-Mg合金における低接触抵抗特性のメカニズム
　　　　　　　玉井　輝雄　（兵庫教育大）

  ９．開離時アークによる電極の消耗と転移量
　　　　　　　○竹内　満　（名古屋市工業研究所）、窪野隆能　（静岡大）

  １０．無線通信マイクロカメラシステムのＭＥＭＳ３次元実装
　　技術
　　　○山田浩，栂嵜隆，木村正信，貞本敦史，須藤肇（東芝）

  １１．端子微摺動摩耗の定量化
　　　　　　　○野崎　秀隆、杉山　靖　（住友電装）


◆継電器・コンタクトテクノロジ研究会；IEEE CPMT共催
☆ EMD研究会今後の予定　　〔　〕内発表申込締切日
2月23日（金）　工学院大「卒論・修論発表会」
3月　休会
4月20日　富士通　「一般」　〔２月８日（木）〕
◎最新の情報は http://www.ieice.org/es/emd/jpn/ を
　ご参照下さい。

【発表申込・問合先】
  浅井誠二（日立製作所）
　TEL [045] 881-1221, FAX [045] 865-7057
　Email: seiji_asai@cm.tcd.hitachi.co.jp
石田広幸（東北文化学園大）
  　TEL /FAX [022] 233-5437
  　Email: ishida@ait.tbgu.ac.jp
小林達郎（沖センサデバイス）
  　TEL [0426] 62-6666, FAX [0426] 62-0229
  　Email: kobayashi01osdc@hac.oki.co.jp

☆R研究会今後の予定
3月16日（金）　電子部品の信頼性、信頼性一般　東京
4月　休会